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新生儿脑发育不良能检查出来吗

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新生儿脑发育不良可以通过头颅超声检查、磁共振成像等方式进行诊断。
头颅超声检查能够实时观察胎儿头部结构，对软组织分辨率较高，因此可用来检测脑部异常；而磁共振成像能够提供更为详细的解剖信息，并且对于多种类型的病变具有较高的敏感性和特异性，有助于明确诊断。
此外，还可以通过神经发育评估来确定是否存在认知或运动障碍。
在评估新生儿脑发育时，应考虑家族史、孕期风险因素以及出生前后的环境影响。定期监测和早期干预可以最大限度地减少后遗症，促进儿童健康成长。